Speaker
Description
Spektroskopia mikrofalowa stanowi jedno z kluczowych narzędzi do badania właściwości dielektrycznych materiałów, w szczególności stałej dielektrycznej. Powszechnie stosowane sondy koaksjalne, mimo wysokiej czułości, cechują się ograniczoną głębokością penetracji, co znacząco utrudnia pomiary w przypadku materiałów wielowarstwowych oraz o dużych stratach dielektrycznych [1]. W ramach niniejszej pracy podjęto próbę opracowania i przetestowania sond mikropaskowych, pozwalających na głębsze wnikanie pola elektromagnetycznego i tym samym umożliwiających bardziej wiarygodne pomiary w trudnych warunkach materiałowych [2], na przykład podczas badania wielowarstwowych materiałów o wysokiej stratności.
W celu weryfikacji zaprojektowanych struktur przeprowadzono symulacje numeryczne w środowisku CST Studio Suite oraz eksperymenty laboratoryjne. Ocenie poddano skuteczność detekcji zmian parametrów dielektrycznych w materiałach referencyjnych oraz potencjał diagnostyczny proponowanych rozwiązań w kontekście przyszłych zastosowań przemysłowych i badawczych.
Bibliografia
[1] Ślot Maciej, Samolej Kamila, Bartosik Maks, Drabik Piotr i Zasada Ilona (2024). Non-contact microwave sensor for FDM 3D printing quality control. Virtual and Physical Prototyping, 19(1). https://doi.org/10.1080/17452759.2024.2360167
[2] Edwards Terry C. i Steer Michael B.. 2016. Foundations for Microstrip Circuit Design. Chichester, Wielka Brytania: Wiley-IEEE Press
